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基于光场式时栅空间调制函数特征分析的辅助装配调校系统研究
微纳技术与精密机械 | 更新时间：2025-02-20
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    • 基于光场式时栅空间调制函数特征分析的辅助装配调校系统研究

    • Research on an auxiliary assembly and calibration system based on the analysis of the spatial modulation function features of the light field time-grid

    • “在精密测量领域，专家基于光场式时栅结构特征，提出了辅助装配调校系统，有效降低传感器测量误差至±1.3 μm，为精密测量提供解决方案。”
    • 光学精密工程   2024年32卷第22期 页码：3323-3335

    • DOI：10.37188/OPE.20243222.3323    

      中图分类号： TP205

    • 收稿日期：2024-08-22，

      修回日期：2024-11-08，

      纸质出版日期：2024-11-25

    移动端阅览

  • 金重宇,付敏,邓晶月等.基于光场式时栅空间调制函数特征分析的辅助装配调校系统研究[J].光学精密工程,2024,32(22):3323-3335. DOI： 10.37188/OPE.20243222.3323.

    JIN Chongyu,FU Min,DENG Jingyue,et al.Research on an auxiliary assembly and calibration system based on the analysis of the spatial modulation function features of the light field time-grid[J].Optics and Precision Engineering,2024,32(22):3323-3335. DOI： 10.37188/OPE.20243222.3323.

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相关作者

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