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晶圆定位标记光学成像的自适应聚焦评价
现代应用光学 | 更新时间:2025-03-26
    • 晶圆定位标记光学成像的自适应聚焦评价

    • Adaptive focusing evaluation algorithm for optical imaging of wafer positioning marks

    • 在晶圆定位标记领域,专家提出了基于多向梯度方差的自适应聚焦评价算法,有效提升了自动聚焦的灵敏度和稳定性。
    • 光学精密工程   2025年33卷第3期 页码:389-401
    • DOI:10.37188/OPE.20253303.0389    

      中图分类号: TH744;TP391.4
    • CSTR:32169.14.OPE.20253303.0389    
    • 收稿日期:2024-11-25

      修回日期:2024-12-18

      纸质出版日期:2025-02-10

    移动端阅览

  • 杨金,张航瑛,孟凯等.晶圆定位标记光学成像的自适应聚焦评价[J].光学精密工程,2025,33(03):389-401. DOI: 10.37188/OPE.20253303.0389. CSTR: 32169.14.OPE.20253303.0389.

    YANG Jin,ZHANG Hangying,MENG Kai,et al.Adaptive focusing evaluation algorithm for optical imaging of wafer positioning marks[J].Optics and Precision Engineering,2025,33(03):389-401. DOI: 10.37188/OPE.20253303.0389. CSTR: 32169.14.OPE.20253303.0389.

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