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Micro LED表面缺陷的快速高精度检测
信息科学 | 更新时间：2025-07-01

    • Micro LED表面缺陷的快速高精度检测

    • Rapid and high-precision detection on surface defects of micro LED

    • “LED-YOLO算法在Micro LED缺陷检测领域取得突破，提升了检测速度和精度，有效满足质量检验需求。”
    • 光学精密工程   2025年33卷第9期 页码：1434-1445

    • DOI：10.37188/OPE.20253309.1434    

      中图分类号： TP394.1;TH691.9
    • CSTR：32169.14.OPE.20253309.1434    

    • 收稿日期：2024-12-17，

      修回日期：2025-01-24，

      纸质出版日期：2025-05-10

    移动端阅览

  • 赵天元,董登峰,王国名等.Micro LED表面缺陷的快速高精度检测[J].光学精密工程,2025,33(09):1434-1445. DOI： 10.37188/OPE.20253309.1434. CSTR： 32169.14.OPE.20253309.1434.

    ZHAO Tianyuan,DONG Dengfeng,WANG Guoming,et al.Rapid and high-precision detection on surface defects of micro LED[J].Optics and Precision Engineering,2025,33(09):1434-1445. DOI： 10.37188/OPE.20253309.1434. CSTR： 32169.14.OPE.20253309.1434.

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