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基于相位测量偏折术的复杂曲面测量系统
现代应用光学 | 更新时间:2025-12-19
    • 基于相位测量偏折术的复杂曲面测量系统

    • Complex surface measurement system based on phase measuring deflectometry technique

    • 在高精度测量领域,专家建立了基于相位测量偏折术的条纹反射法测量系统,实现了复杂曲面的高精度检测,为提升装备性能提供保障。
    • 光学精密工程   2025年33卷第23期 页码:3658-3671
    • DOI:10.37188/OPE.20253323.3658    

      中图分类号: O436;TP394.41
    • CSTR:32169.14.OPE.20253323.3658    
    • 收稿:2025-06-30

      修回:2025-08-25

      纸质出版:2025-12-10

    移动端阅览

  • 徐志强,王建立,李宏壮等.基于相位测量偏折术的复杂曲面测量系统[J].光学精密工程,2025,33(23):3658-3671. DOI: 10.37188/OPE.20253323.3658. CSTR: 32169.14.OPE.20253323.3658.

    XU Zhiqiang,WANG Jianli,LI Hongzhuang,et al.Complex surface measurement system based on phase measuring deflectometry technique[J].Optics and Precision Engineering,2025,33(23):3658-3671. DOI: 10.37188/OPE.20253323.3658. CSTR: 32169.14.OPE.20253323.3658.

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