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光学元件六自由度位姿高精度检测方法
微纳技术与精密机械 | 更新时间:2026-04-28
    • 光学元件六自由度位姿高精度检测方法

    • High-precision measurement method for 6-DOF pose of optical components

    • 光学精密工程   2026年34卷第8期 页码:1232-1244
    • DOI:10.37188/OPE.20263408.1232    

      中图分类号: TH744.3
    • CSTR:32169.14.OPE.20263408.1232    
    • 收稿:2026-01-14

      修回:2026-02-03

      纸质出版:2026-04-25

    移动端阅览

  • 刘昊天,曾雪锋,李雯研等.光学元件六自由度位姿高精度检测方法[J].光学精密工程,2026,34(08):1232-1244.

    LIU Haotian,ZENG Xuefeng,LI Wenyan,et al.High-precision measurement method for 6-DOF pose of optical components[J].Optics and Precision Engineering,2026,34(08):1232-1244.

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