CCD真空低温光电快速测试系统的设计与验证

刘国华; 杨森; 王煜; 林方

doi:10.37188/OPE.20263414.2192

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CCD真空低温光电快速测试系统的设计与验证

微纳技术与精密机械 | 更新时间：2026-08-03

- CCD真空低温光电快速测试系统的设计与验证
- Design and verification of a fast vacuum cryogenic optoelectronic test system for CCD
- 光学精密工程 2026年34卷第14期页码：2192-2203
- 作者机构：
  
  1.安徽大学物质科学与信息技术研究院，安徽合肥 230601
  2.中国科学院西安光学精密机械研究所，陕西西安 710119
  3.中国科学院安徽光学精密机械研究所，安徽合肥 230031.
- 作者简介：
  
  刘国华（1987-），男，湖南衡阳人，博士，讲师，2013年于安徽大学获得硕士学位，2018年于中国科学技术大学获得博士学位，现为安徽大学教职工，主要从事航天电子、智能检测方面的研究。E-mail： ghliu@ahu.edu.cn
  王煜（1970-），男，北京人，博士，研究员，1993年于哈尔滨工业大学获得学士学位，2005年于英国斯特莱斯克莱德大学获得博士学位，现为安徽大学物质科学与信息技术研究院环境物理所副所长，主要从事航空、航天遥感设备研发等工作。E-mail：yuwang@ aiofm.ac.cn
- 基金信息：
  
  安徽省青年基金项目(2108085QF283);国家重点研发项目(2024YFC3712905)
- DOI：10.37188/OPE.20263414.2192
  中图分类号： TP74;V416.8
- CSTR：32169.14.OPE.20263414.2192
- 收稿：2026-04-08，
  
  修回：2026-05-20，
  
  网络首发：2026-08-03，
  
  纸质出版：2026-07-25
- 稿件说明：
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刘国华,杨森,王煜等.CCD真空低温光电快速测试系统的设计与验证[J].光学精密工程,2026,34(14):2192-2203.

LIU Guohua,YANG Sen,WANG Yu,et al.Design and verification of a fast vacuum cryogenic optoelectronic test system for CCD[J].Optics and Precision Engineering,2026,34(14):2192-2203.
刘国华,杨森,王煜等.CCD真空低温光电快速测试系统的设计与验证[J].光学精密工程,2026,34(14):2192-2203. DOI： 10.37188/OPE.20263414.2192. CSTR： 32169.14.OPE.20263414.2192.

LIU Guohua,YANG Sen,WANG Yu,et al.Design and verification of a fast vacuum cryogenic optoelectronic test system for CCD[J].Optics and Precision Engineering,2026,34(14):2192-2203. DOI： 10.37188/OPE.20263414.2192. CSTR： 32169.14.OPE.20263414.2192.

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CCD真空低温光电快速测试系统的设计与验证

Design and verification of a fast vacuum cryogenic optoelectronic test system for CCD

DOI：10.37188/OPE.20263414.2192