全场光学测量与无损检测是综合应用光学、精密测量、数据分析与计算机技术，解决材料、结构及部件性能评估和质量控制等工程问题的重要技术领域。近年来，国内外学者在该领域开展了广泛深入的研究，取得了显著的科研进展，在高精度光学测量方法、非接触无损检测技术以及多学科交叉融合等方面实现了重要突破。国际和国内相关研究成果的数量和质量稳步提升，受到国内外同行的高度关注和认可。

为进一步推动全场光学测量与无损检测领域的学术交流，促进技术创新和工程应用发展，《光学精密工程》期刊拟出版“全场光学测量与无损检测”专刊。本专刊诚邀国内外研究人员积极投稿，共同探讨该领域的前沿技术与发展趋势，分享创新性研究成果。

一、收稿范围

欢迎原创性并且尚未被其他期刊、会议发表或录用的相关领域学术论文，论文范围包括（但不限于）以下内容：

全场散斑测量技术：包括数字散斑干涉、数字图像相关方法在应力、形变场测量中的应用，以及相关算法优化与数据处理技术研究。

光学测量与成像技术：包括干涉测量、投影测量、全息测量、光场成像、计算成像、显微成像等技术及其在航空航天、国防兵器、工业、生物医疗等各领域的应用。

信号与图像处理技术：包括系统标定、信号去噪、特征提取与增强，目标匹配与跟踪、基于人工智能的缺陷识别与分类，数据融合与分析等。

无损检测与评估：材料无损检测、结构健康监测、应力和变形分析等，重点关注高精度、非接触检测技术的发展与应用。

系统集成与工程应用：全场光学测量与无损检测系统设计、集成与优化，行业应用案例及相关新型设备研发。

二、投稿说明

投稿注意事项及论文格式体例参考《光学精密工程》稿件要求，并采用《光学精密工程》期刊投稿系统进行投稿，详细要求请参考《光学精密工程》官方网站http://www.eope.net/CN/volumn/home.shtml。

投稿时请务必在投稿系统中选择“全场光学测量与无损检测”专题。

稿件将由编辑部组织同行专家进行评审，并做出录用与否的最终决定。编辑部会及时向作者转达评审意见。

三、重要日期

投稿日期：2025年2月21日-2025年06月30日

录用日期：2025年7月

发表日期：2025年8月

四、客座编委

李骏睿 合肥工业大学

刘   吉 中北大学

严利平 浙江理工大学

吴思进 北京信息科技大学

五、编辑部

联系人：曹金

E-mail：gxjmgc@ciomp.ac.cn

电话：0431-86176855

地址：吉林省长春市东南湖大路3888号

光学精密工程编辑部

2025-02-20