新型の太陽光モジュール技術であるハーフセルモジュールおよびシャングルモジュールに対し、放射照射と温度がモジュールの電気的性能安定性に及ぼす影響を体系的に研究した。IEC61215およびIEC61853規格に従い、屋内の仮想環境と太陽光発電所の実環境において、温度と放射照射が従来型、ハーフセルおよびシャングルモジュールの電気的性能安定性に与える影響を試験した。AM1.5標準放射条件下で、シャングルおよびハーフセルモジュールの主要電気パラメータの相対温度係数の絶対値は従来型モジュールより大幅に低減し、高い熱安定性を示し、熱安定性は放射強度と正の相関を示した。0〜80°の放射入射角範囲内で両モジュールとも従来型より光利用率が高く、放射角度に対する安定性が向上した。屋外環境での累積放射後、ハーフセルおよびシャングルモジュールの光誘起劣化効果は従来型より弱く、長期的な放射安定性が高いことを示した。ハーフセルおよびシャングルモジュールの性能は温度、光入射角、長期放射に関する安定性が従来型より改善されており、これは小面積セルによる強い熱機械的応力耐性、回路内のジュール熱の減少、および内部一部セルの並列接続によるホットスポット効果の緩和に主に起因する。

太陽光モジュール;温度係数;放射強度;光利用率;光誘起劣化