超低損失レーザーフィルムは、重力波検出、光格子時計、光キャビティ減衰分光などの精密測定分野で重要な応用を持っています。レーザー共振器の共振長の安定性と総光学損失が測定システムの感度および信号対雑音比を決定します。薄膜材料、製造プロセスおよび検査技術の発展により、薄膜の光学損失制御および熱雑音の研究において顕著な進展がありました。光学損失に関して言えば、薄膜吸収は10^-6以下のレベルに制御されており、薄膜散乱が光学損失の主要因となっています。本稿は欠陥誘起散乱および界面散乱の2つの側面から薄膜散乱制御の研究方針と成果を整理し、光学因子設計および界面のパワースペクトル密度制御によって薄膜界面散乱を低減し、節瘤欠陥誘起散乱の理論解析モデルを確立し、その物理的メカニズムを解明し、欠陥誘起散乱の制御技術を提案しました。熱雑音の研究においては、主に薄膜の機械的損失の物理的メカニズムを紹介し、薄膜材料系の最適化により反射薄膜の機械的損失を低減し、薄膜機械的損失の評価方法を継続的に改善しています。

レーザーフィルム; 界面散乱; 節瘤欠陥; 機械的損失