同一ピクセル点における鏡面反射および拡散反射の2種類の反射特性の位相情報と較正データを取得し、鏡面反射面と拡散反射面を兼ね備えた複合表面物体の三次元形状の全域測定を実現して測定範囲を拡大するために、鏡面/拡散反射面較正板を基にしたシステムパラメータ較正方法を提案する。チェスボード様式の鏡面/拡散反射面較正板を設計・製作し、その表面には隣接距離が既知の標識が付されている。鏡面/拡散反射面較正板の特殊な構成に基づき、制限付き移動方式を用い、外部パラメータ制約とスプライン補間アルゴリズムを組み合わせて完全な参照位相を融合取得する。同一座標系内で各ピクセルごとに空間距離、システムパラメータ、ピクセル位置および横方向座標XY間の対応関係を校正する。最後に、完全な参照位相とピクセルごとの較正データを用いて複合表面物体の三次元形状を再構成する。実験結果は、非全域測定と比較して、鏡面および拡散反射面較正板に基づくパラメータ較正方法が測定範囲を1.5～2倍に拡大したことを示している。本方法は精度を犠牲にすることなく、不連続な複合表面物体の三次元形状の全域測定を実現し、測定範囲を拡大し、複合表面物体の三次元形状計測に実用的な価値がある。

システム較正; 鏡面および拡散反射面較正板; 複合表面; 全域測定