化学製品の製造過程において、放射線源の放射線を用いて配管を透過し溶液密度を測定する際、光電子増倍管の出力計数率は高電圧リップルノイズの影響を受けやすく、著しい減衰が発生し、密度測定の精度が低下する。リップルノイズが計数率に与える影響を低減するためには、リップルによる計数率の減衰を補償する必要がある。まず、異なる高電圧リップル条件下で収集した計数率の実験データに基づいて、計数率と高電圧リップルの間の数学モデルを構築した。次に、数学モデルの解析により、高電圧リップルの振幅と周波数を低減することで、高電圧リップルによる計数率への影響を軽減できることを明らかにした。最後に、適応型カルマンフィルタアルゴリズムを用いて高電圧リップルを抑制し、プロセスノイズと測定ノイズの因子を調整することで計数率の適応補償を実現した。実験には40%アルコール溶液を用い、補償前後の計数率および溶液密度測定結果を比較分析した。実験結果は、補償前と比較して、補償後のパルス計数損失率が3.54%～5.46%に低減し、溶液密度と実測値の最大偏差が0.019 g/cm³で、密度検出精度が1.51%向上したことを示している。

光電子増倍管;リップルノイズ;計数率;カルマンフィルタ;適応補償