液晶変調および回転波長板法による全ストークス偏光イメージングにおいて、斜入射偏光素子が引き起こす位相遅延誤差が偏光測定に及ぼす影響を考慮せず、その結果、偏光測定精度が低下する問題に対し、像入射角補正法を提案した。従来の偏光測定を基に、波長板および液晶の位相遅延と光線入射角との誤差補正モデルをそれぞれ構築し、波長板の位相遅延量と入射角および波長の定量的関係、液晶の位相遅延量と入射角、駆動電圧および波長の定量的関係を明確にした。1:1二次像遠心中継光学系を設計し、一般的な市販レンズの自由な切り替えを容易にした。実験結果は、入射角補正を追加した後、偏光度、線偏光度、円偏光度および楕円角の最大相対誤差値がそれぞれ約7.72%、8.31%、10.50%、12.93%低減し、高精度偏光イメージングおよび斜入射条件下での偏光光学系の最適設計と実用化に理論的基盤と技術的支援を提供することを示した。

偏光イメージング;液晶変調;回転波長板法;全ストークス;誤差補正