중성자는 매우 강한 투과력을 가지고 있어 재료 및 생물 시료의 미세 구조 검사에 널리 사용되지만, 중성자 빔의 세기가 X선보다 현저히 약하기 때문에 보통 중성자 빔을 효과적으로 활용하기 위해 집속 방식을 사용한다. 이전에 고성능 제조 개념을 바탕으로 개발된 금속 재질 부분 회전 타원형 중성자 반사경에 대해 집속 및 중성자 소각산란 실험 테스트를 수행하였다. 결과는 집속된 중성자 빔의 최대 세기가 난산란 강도의 10^3배에 도달할 수 있으며, 전면 핀홀 크기와 거의 동일한 원형 초점을 구현함을 보여준다. 최적 초점면에서 벗어난 집속 실험을 통해 거울 중심과 검출기 간의 다양한 거리에서 빔 프로파일을 얻었으며, 이 빔 프로파일의 반치폭은 기하광학 기반 이론 계산값과 잘 일치하였다. 직접 중성자 빔과 반사 중성자 빔의 파장 분포를 분석하였으며, 중성자의 반사율은 60%에 도달했고, 최대 강도는 1 000 카운트/픽셀(0.1 mm×0.1 mm)을 초과하였다. 중간공 규산염(MCM-41)을 표준 시료로 사용하여 중성자 소각산란의 초기 결과를 얻었다. 결과는 이 중성자 반사경이 좋은 집속 성능을 가지고 있으며 중성자 소각산란에 적용할 수 있음을 보여준다.

중성자 광학;초점;반사율;난산란;중성자 소각산란