산업용 CT 검사 시스템의 기술 성능 향상은 방사선 비파괴 검사 분야의 시스템 개발자와 사용자들이 공동으로 추구하는 목표였습니다. 이러한 목표를 바탕으로, 결합된 섬광 스크린과 과학 등급 평면 CMOS 카메라를 이용한 CT 이미지 탐지 방법을 제안하였으며, 본문에서는 미세초점 산업용 CT 시스템 하드웨어 제작 및 소프트웨어 개발에 관련된 주요 공학 기술 세부 사항을 소개합니다. 자체 개발한 방사선 내성 X선 디지털 카메라와 상용 평판 검출기의 실제 기술 지표 비교 결과, X선 CT 통합 소프트웨어(CTER MAX)와 상용 소프트웨어 간의 CT 재구성 알고리즘 계산 효율성 비교 결과 및 CT 시스템 공간 해상도 검출 결과를 제시합니다. 결과는 방사선 내성 X선 디지털 카메라가 초고화소 샘플링, 저잡음, 높은 동적 범위, 고해상도, 방사선 내성, 저비용 등의 장점을 갖추었으며, 특히 공간 해상도에서 평판 검출기보다 향상 여지가 크고 사용이 더 유연하며 다양한 응용 시나리오에 적합함을 보여줍니다; CTER MAX 소프트웨어는 기능이 완벽하고 조작이 편리하며 상용 소프트웨어 대비 계산 성능이 약 4.5배 빠릅니다; CT 시스템의 종합 공간 해상도는 최대 5 μm로, 방사선원 초점 크기와 거의 같습니다. 전체 시스템은 안정적이며 신뢰할 수 있고 항공기 엔진 블레이드, 암석 코어 검사 등 다양한 산업 분야의 비파괴 검사에 적용 가능하다.

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