복합식 2차 에지 검출을 이용한 루비 구 직경 고정밀 측정

GAO Ruizhe ,  

TIAN Ailing ,  

CHEN Feng ,  

YANG Dong ,  

MA YueYang ,  

摘要

루비 구의 직경을 비접촉식으로 고정밀 측정하기 위해, 본 논문에서는 복합식 2차 에지 검출 방법을 제안한다. 먼저, 촬영된 루비 구 이미지를 전처리한 후 적응 임계값 Canny 엣지 검출 알고리즘을 사용하여 1차 에지 검출을 수행한다; 다음으로, 픽셀 가중 평균 기반 이미지 융합 알고리즘을 사용하여 루비 구 이진화 이미지와 에지 검출 이미지를 융합하고, 융합된 이미지에서 에지를 추출한 뒤, 3차 스플라인 보간법을 선택하여 에지 이미지 보간을 수행한다. 곡선 피팅을 통해 이미지 에지의 아픽셀 좌표를 얻고, 좌표를 바탕으로 원 피팅을 수행하며, 보정을 통해 검출 결과를 얻어 복합식 2차 에지 검출을 완성하여 루비 구 직경의 고정밀 측정을 실현한다. 실험 결과, 6 mm 루비 구 직경 측정에서 측정 정밀도가 <inline-formula><alternatives><math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" id="M1"><mn mathvariant="normal">1.5</mn><mtext> </mtext><mi mathvariant="normal">μ</mi><mi mathvariant="normal">m</mi></math><graphic specific-use="big" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xlink:href="alternativeImage/BBD0AA1E-3F42-4a51-985F-1D88C2464944-M001.jpg"><?fx-imagestate width="9.82133293" height="3.13266683"?></graphic><graphic specific-use="small" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xlink:href="alternativeImage/BBD0AA1E-3F42-4a51-985F-1D88C2464944-M001c.jpg"><?fx-imagestate width="9.82133293" height="3.13266683"?></graphic></alternatives></inline-formula>에 달하며, 위치 정밀도는 0.1 픽셀을 넘지 않아 기업의 측정 요구를 충족시키고, 후속 산업 자동화 검출 구현에 좋은 기술적 지원을 제공한다.

关键词

복합식 2차 에지 검출;고정밀 측정;이미지 융합;3차 스플라인 보간;곡선 피팅

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