摘要
동일 픽셀 위치에서 거울 반사 및 난반사의 두 가지 반사 특성의 위상 정보와 보정 데이터를 얻고, 거울 반사면과 난반사면을 모두 갖는 복합 표면 물체의 3차원 형상을 전장 측정하여 측정 범위를 확장하기 위해, 거울 반사/난반사 보정판을 기반으로 한 시스템 파라미터 보정 방법을 제안한다. 체스판 패턴의 거울 반사/난반사 보정판을 설계 및 제작하였으며, 표면에는 인접 거리 정보가 알려진 표식이 부착되어 있다. 거울 반사/난반사 보정판의 특수한 구성에 기반하여, 제한된 평행 이동 방법과 외부 파라미터 제약 및 스플라인 보간 알고리즘을 결합하여 완전한 기준 위상을 융합하여 획득한다. 동일 좌표계 내에서 픽셀별로 공간 거리, 시스템 파라미터, 픽셀 위치 및 횡방향 좌표 XY 간의 매핑 관계를 보정한다. 마지막으로 완전한 기준 위상과 픽셀별 보정 데이터를 이용하여 복합 표면 물체의 3차원 형상을 재구성한다. 실험 결과는 비전장 측정에 비해 거울 반사 및 난반사 보정판 기반 파라미터 보정 방법이 측정 범위를 1.5~2배 확장했음을 보여준다. 본 방법은 정밀도를 희생하지 않으면서 불연속 복합 표면 물체의 3차원 형상을 전장 측정하는 것을 실현하여 측정 범위를 확장했으며, 복합 표면 물체의 3차원 형상 측정에 실질적인 응용 가치를 가진다.
关键词
시스템 보정; 거울 반사 및 난반사 보정판; 복합 표면; 전장 측정
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