고속, 고정밀 이중굴절 현미경 측정을 위하여 탄력광 조절을 이용한 이중굴절 현미경 이미징 방안이 제안되었습니다. 고조파 조건 및 고순도 조건의 탄력광 조절 기술의 이점을 활용하여 이중굴절 현미경 측정을 실현하고, 이후로, 고조 지시 밝히기법을 활용하여 탄력광 조절기의 '고주파 조절'과 카메라의 '저 획득 프레임율' 사이의 모순을 해결합니다. 0°, 30°, 90°의 세 탄력조절 위상에서 이미지 취득실험을 진행하여 시료의 이중굴절 위상 지연량 분포를 계산합니다. 마지막으로, 실험 시스템을 구축하고, 파장판 및 무화시편 시료에 대해 측정실험을 수행합니다. 실험 결과에 따르면, 파장판의 지연량 측정 오차는 1%보다 우수하며, 지연량 정밀도는 ±λ/300을 만족하며, 지연량 분포의 최대 편차가 1.62 nm를 초과하지 않습니다. 무화시편의 다른 지연량 분포 영역은 다른 부위의 구별을 완료할 수 있으며, 단일 측정 시간은 3 밀리초 이내입니다. 이 방안은 고속, 고정밀의 이중굴절 분포 측정을 실현하고, 이중굴절 위상 지연량 분포 측정 능력을 갖추어, 2차원 신소재, 생물조직 이미징 등 연구에 선진 기술 수단을 제공할 수 있습니다.

현미경 이미징; 탄력광 조절; 고조 지시; 위상 지연량; 이중굴절