O sistema de medição de temperatura por razão de resistência de referência única é um método atualmente comum de medição de temperatura de alta precisão, que pode efetivamente reduzir os efeitos do desvio a longo prazo da fonte de corrente constante, do desvio de ganho do amplificador, da força termoelétrica e outros fatores nos resultados de medição, mas o desempenho da medição piora à medida que a resistência medida se afasta do valor da resistência de referência. Para resolver este problema, este artigo primeiro analisa o método de medição de temperatura baseado na razão entre a resistência de platina e a resistência de referência com fonte de corrente constante, introduz um fator não linear, analisa teoricamente a razão pela qual o desempenho da medição piora à medida que a resistência medida se afasta da resistência de referência e, com base nisso, propõe o método de medição por razão de múltiplas resistências de referência, e realiza o projeto do sistema de hardware. Foram realizados experimentos equivalentes para estabilidade a longo prazo, capacidade de resolução e degradação da calibração não linear causada por diferentes temperaturas ambientes, para verificar a correção das derivações teóricas deste artigo. Os resultados experimentais mostram que, na faixa de medição de temperatura de -38,8 a 64,6 ℃, a estabilidade de medição do sistema de razão múltipla de resistências de referência de alta precisão é melhor que 0,0025 ℃/5 dias, a capacidade de resolução é melhor que 0,00125 ℃ e a estabilidade de medição em temperaturas ambientais de 5 a 45 ℃ é melhor que 0,004 ℃. Isso basicamente atende às necessidades das aplicações de medição de temperatura de longo prazo e com grande variação de temperatura ambiental.

Medição de temperatura;medição por razão;resistência de platina;múltiplas referências;não linear