Devido ao seu forte poder de penetração, os nêutrons são amplamente utilizados na inspeção da estrutura microscópica de materiais e amostras biológicas. No entanto, como a intensidade do feixe de nêutrons é significativamente menor do que a dos raios X, geralmente se utiliza um método de focalização para obter uma utilização eficaz do feixe de nêutrons. Foram realizados testes experimentais de focalização e espalhamento de nêutrons em pequenos ângulos utilizando um espelho refletor de neutrons elíptico parcialmente rotatório de metal, desenvolvido anteriormente com base no conceito de fabricação de alto desempenho. Os resultados mostram que a intensidade máxima do feixe de nêutrons focalizado pode atingir 10^3 da intensidade da dispersão difusa, alcançando uma mancha focal circular quase do mesmo tamanho que o orifício frontal do pinhole. Por meio de experimentos de focalização afastados do plano focal ideal, obtiveram-se perfis do feixe para diferentes distâncias entre o centro do espelho e o detector, sendo que a largura de meia altura desses perfis coincidiram bem com os valores calculados teoricamente com base na óptica geométrica. Foi analisada a distribuição do comprimento de onda dos feixes de nêutrons diretos e refletidos. A refletividade dos nêutrons atingiu 60%, e a intensidade máxima ultrapassou 1000 contagens por pixel (0,1 mm×0,1 mm). Com o dióxido de silício mesoporoso (MCM-41) como amostra padrão, foram obtidos resultados preliminares do espalhamento de nêutrons em pequenos ângulos. Os resultados indicam que este espelho refletor de nêutrons possui bom desempenho de focalização e pode ser aplicado ao espalhamento de nêutrons em pequenos ângulos.

óptica de nêutrons; foco; refletividade; dispersão difusa; espalhamento de nêutrons em pequenos ângulos