Para resolver o problema da dificuldade de correspondência de imagens de speckle fracamente correlacionadas causadas pela inclinação do campo de visão, foi proposto um método de correspondência discretizada para imagens digitais de speckle com grande ângulo de inclinação. Baseado na regra de que a correspondência de sub-regiões de pequeno tamanho é relativamente menos afetada pela inclinação, pontos de semente de grande dimensão são inicialmente discretizados em grupos de pequenos pontos de semente para correspondência; posteriormente, os resultados da correspondência dos pequenos grupos são integrados para obter o valor inicial de correspondência dos pontos de semente de grande dimensão; após um ajuste preciso desse valor, podem ser obtidas coordenadas de correspondência precisas dos pontos de semente de grande dimensão; finalmente, utilizando um algoritmo de difusão de pontos de semente, pode-se alcançar a correspondência completa da imagem inclinada. Por meio da simulação da geração de sequências de imagens com ângulos de inclinação de 0 a 42° e testes de correspondência dentro do intervalo de raio de sub-região de 7 a 30 pixels, determinou-se que o ângulo de inclinação e o tamanho da sub-região são os principais fatores que afetam a correspondência da imagem, fornecendo a base para a escolha dos principais parâmetros no processo de correspondência bem-sucedida de imagens inclinadas, verificando a eficácia do método de correspondência discretizada e comparando seu desempenho geral. Resultados de simulações numéricas e experimentais indicam que a precisão do método de correspondência discretizada proposto neste artigo está dentro de ±0,03 pixels, aumentando eficazmente a taxa de sucesso da correspondência de imagens de speckle em campo de visão inclinado e podendo satisfazer as necessidades de correspondência estável e medição de deformação de imagens de speckle com campo inclinado inferior a 40°.

Medição óptica;Correspondência de baixa correlação;Discretização de sub-regiões;Difusão de pontos de semente;Melhoria da taxa de sucesso