Danos por irradiação ultravioleta extremo em nanossegundos em espelhos de filmes finos

LI Wenbin ,  

LI Shuhui ,  

PAN Liuyang ,  

ZHANG Zhe ,  

XIE Chun ,  

HUANG Qiushi ,  

WANG Zhanshan ,  

摘要

Com a aplicação de fontes de luz como lasers de elétrons livres ultracurtos e ultrapotentes, a resistência à radiação de espelhos de filmes finos nas faixas de ultravioleta extremo e raios X tem recebido muita atenção. Este artigo apresenta o dispositivo de danos por irradiação ultravioleta extremo em nanossegundos montado no laboratório IPOE, e realizou testes de danos por irradiação em espelhos de filmes finos comumente usados em lasers de elétrons livres ultravioleta extremo-raios X, incluindo espelhos de filme fino B4C, espelhos monocamadas metálicas de Au e Ru, espelhos de filme duplo B4C/Ru e espelhos multicamadas Mo/Si para fotolitografia ultravioleta extremo. Foram obtidas as propriedades de resistência a danos de espelhos de filmes finos de diferentes materiais e estruturas, revelando por simulação teórica o papel dos mecanismos de danos, como fusão térmica, estresse térmico e reações de difusão entre camadas.

关键词

ultravioleta extremo;espelhos de filmes finos;resistência a danos;mecanismos de danos

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