As propriedades de baixa dimensionalidade dos materiais bidimensionais trouxeram muitos fenômenos optofísicos novos, nos quais as propriedades físicas em escala micro-nano influenciam em grande medida e até dominam as propriedades ópticas dos materiais bidimensionais. Portanto, a caracterização das propriedades físicas em escala micro-nano e a resposta óptica resultante é um meio importante para estudar os mecanismos potenciais dos fenômenos optofísicos em materiais bidimensionais. Em comparação com as técnicas espectrais, a microscopia óptica pode descrever as respostas ópticas dos materiais bidimensionais de forma mais precisa, ampla e detalhada; entre elas, a microscopia baseada em sinais ópticos não lineares pode caracterizar efetivamente as propriedades físicas básicas dos materiais bidimensionais, com alta relação sinal-ruído e resolução sob resposta de banda larga, fornecendo um apoio importante para a pesquisa fundamental e exploração de aplicações dos materiais bidimensionais. Este artigo revisa primeiro os avanços da microscopia óptica não linear em relação ao número de camadas, eixos cristalinos, limites cristalinos, empilhamento e acoplamento externo dos materiais bidimensionais, e com base nisso analisa e discute as dificuldades técnicas atuais e as tendências de desenvolvimento no campo.

materiais bidimensionais;óptica não linear;microscopia óptica