Preparação e teste da placa de espectroscopia de cancelamento de polarização de alta razão espectral na faixa de 780 nm

WANG Guochao ,  

HUANG Guangyao ,  

ZHU Lingxiao ,  

LI Xinghui ,  

YAN Shuhua ,  

摘要

A placa de espectroscopia de cancelamento de polarização é um componente espectral importante na óptica espacial. Para alcançar uma saída espectral estável do laser na faixa de 780 nm sob condições de alta razão espectral, foi projetada e fabricada uma placa de espectroscopia de cancelamento de polarização de alta razão espectral. Foi utilizado o software TFCalc para simular e projetar um sistema de filmes de cancelamento de polarização de dupla face. As amostras da placa de cancelamento de polarização foram preparadas utilizando a técnica de evaporação térmica assistida por feixe de íons e feixe de elétrons. Em seguida, foram realizadas medições e caracterizações das amostras preparadas com microscópio eletrônico de transmissão e espectrofotômetro, obtendo-se a estrutura real do filme e o espectro de transmissão. Os resultados espectrais mostraram que a transmitância da placa é próxima a 98%, com desvio da transmitância entre luz polarizada s e p inferior a 0,3%. Finalmente, foi construída uma via óptica de teste para realizar testes de variações na direção de polarização, variações no comprimento de onda e estabilidade a longo prazo da placa. Os resultados experimentais mostraram que a transmitância na faixa alvo é próxima a 98%, o desvio da transmitância é inferior a 0,2% para grandes variações na direção da polarização, as flutuações da transmitância são inferiores a 0,12% quando o comprimento de onda varia entre 772 e 792 nm; os resultados em 10 horas mostraram que, com tempo médio de 100 s, as variâncias de Allan da razão espectral e da transmitância são respectivamente <inline-formula><alternatives><math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" id="M1"><mn mathvariant="normal">1.41</mn><mo>×</mo><msup><mrow><mn mathvariant="normal">10</mn></mrow><mrow><mo>-</mo><mn mathvariant="normal">3</mn></mrow></msup></math><graphic specific-use="big" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xlink:href="alternativeImage/4F7728AE-98D4-47bd-BB89-D71F759C5708-M001.jpg"/></graphic><graphic specific-use="small" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xlink:href="alternativeImage/4F7728AE-98D4-47bd-BB89-D71F759C5708-M001c.jpg"/></graphic></alternatives></inline-formula> e <inline-formula><alternatives><math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" id="M2"><mn mathvariant="normal">4.12</mn><mo>×</mo><msup><mrow><mn mathvariant="normal">10</mn></mrow><mrow><mo>-</mo><mn mathvariant="normal">5</mn></mrow></msup></math><graphic specific-use="big" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xlink:href="alternativeImage/4F7728AE-98D4-47bd-BB89-D71F759C5708-M002.jpg"/></graphic><graphic specific-use="small" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xlink:href="alternativeImage/4F7728AE-98D4-47bd-BB89-D71F759C5708-M002c.jpg"/></graphic></alternatives></inline-formula>. A placa de cancelamento de polarização proposta possui bom desempenho de cancelamento de polarização e pode ser diretamente aplicada em testes ópticos de metrologia e em medições precisas para sensores quânticos.

关键词

cancelamento de polarização; placa espectral; design de filmes; alta razão espectral

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