Para obter informações de fase e dados de calibração das características de reflexão especular e difusa no mesmo ponto de pixel, realizar a medição em campo total da morfologia 3D de um objeto com superfície composta que combina superfícies especulares e difusas, e assim expandir a faixa de medição, propõe-se um método de calibração de parâmetros do sistema baseado em uma placa de calibração com superfície especular/difusa. Uma placa de calibração com superfície especular/difusa foi projetada e fabricada, com padrão de tabuleiro de xadrez, cuja superfície possui marcas com distância adjacente conhecida. Com base na configuração especial da placa de calibração especular/difusa, por meio de deslocamento limitado, combinada com restrições de parâmetros externos e algoritmo de interpolação spline para fundir e obter a fase de referência completa. No mesmo sistema de coordenadas, calibra-se pixel a pixel a distância espacial, parâmetros do sistema, posição do pixel e a relação de mapeamento entre as coordenadas transversais XY. Finalmente, utilizando a fase de referência completa e dados de calibração pixel a pixel, reconstrói-se a morfologia 3D do objeto com superfície composta. Os resultados experimentais mostram que, em comparação com a medição não em campo total, o método de calibração de parâmetros baseado em placa de calibração com superfície especular e difusa amplia a faixa de medição em 1,5 a 2 vezes. Este método realiza a medição em campo total da morfologia 3D de objetos com superfícies compostas não contínuas sem sacrificar a precisão, ampliando a faixa de medição e possuindo valor prático para a medição da morfologia 3D de objetos com superfícies compostas.

calibração do sistema; placa de calibração com superfície especular e difusa; superfície composta; medição em campo total