Para realizar a medição simultânea da forma superficial e da pose relativa das duas faces de trabalho de um objeto de duplo espelho, foi estabelecido um sistema de medição de forma e pose com referência comum para objetos de duplo espelho, e foi projetada e fabricada uma placa de calibração de duplo espelho para completar a calibração do sistema e a calibração de referência comum. Primeiro, a placa de calibração de duplo espelho foi usada para realizar a calibração de profundidade e calibração transversal dos dois subsistemas que compõem o sistema de medição com referência comum, estabelecendo a relação entre fase absoluta e profundidade, coordenadas de pixel e coordenadas espaciais X, Y; em seguida, utilizando a relação de restrição espacial, a calibração de referência comum foi realizada, evitando o problema da baixa precisão de calibração causado pelo erro de fabricação da placa de calibração, convertendo a nuvem de pontos 3D localizada em dois sistemas de coordenadas em um sistema de coordenadas de referência único; finalmente, usando o sistema construído, foram realizados experimentos de medição reais em degraus espelhados e blocos de aço branco de alta precisão. Os resultados experimentais mostraram que o erro médio da distância entre as duas superfícies do bloco foi de 0,076 mm, indicando a eficácia do método de calibração de referência comum para a medição da forma tridimensional geral do objeto de duplo espelho; entretanto, o maior erro absoluto na distância entre duas superfícies adjacentes do degrau espelhado medido pelo subsistema foi de 0,032 mm, indicando que o erro da calibração de referência comum reduziu a precisão da medição do sistema. Pesquisas futuras focarão na otimização do método de calibração de referência comum para melhorar a precisão do sistema de medição de forma e pose com referência comum para objetos de duplo espelho.

medição de desvio de fase; objeto de duplo espelho; referência comum; forma da superfície do espelho