Para lograr una medición microscópica de doble refracción de alta velocidad y alta precisión, se propuso un esquema de imagen microscópica de doble refracción basado en la modulación de luz elástica. Utilizando las ventajas de la modulación de polarización con alta frecuencia de modulación y alta pureza de modulación, se logró la imagen microscópica de doble refracción para la medición. Luego, se utilizó el método de iluminación estroboscópica para resolver la contradicción entre la "modulación de alta frecuencia" del modulador elástico y la "baja tasa de adquisición de cuadros" de la cámara. Se realizaron experimentos de adquisición de imágenes en tres fases de modulación elástica de 0°, 30° y 90° para resolver la distribución del retardo de fase de doble refracción de la muestra. Finalmente, se construyó un sistema experimental y se realizaron experimentos de medición en placas retardadoras y en cortes transversales de tallos de tilo. Los resultados experimentales muestran que el error de medición del retardo de placa es mejor que el 1%, la precisión del retardo cumple con ±λ/300, y la desviación máxima de la distribución del retardo no excede los 1,62 nm. Las diferentes áreas de distribución del retardo en el corte transversal del tallo de tilo pueden completar el reconocimiento de diferentes regiones, y el tiempo de medición único es inferior a 3 ms. Este esquema realiza una medición de distribución de doble refracción de alta velocidad y alta precisión, y tiene la capacidad de medir la distribución del retardo de fase de doble refracción, proporcionando así medios técnicos avanzados para investigaciones de nuevos materiales bidimensionales e imagen de tejidos biológicos.

Imagen microscópica;Modulación de luz elástica;Iluminación estroboscópica;Retardo de fase;Doble refracción