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光学曲面的偏折测量技术：原理、挑战与展望（特邀）
现代应用光学 | 更新时间：2025-04-17

    • 光学曲面的偏折测量技术：原理、挑战与展望（特邀）

    • Deflectometric measurement technology for optical surfaces： principles， challenges， and prospects（invited）

    • “在精密测量领域，偏折术凭借其独特优势备受关注。本文介绍了偏折术的工作原理和发展脉络，分析了影响测量精度的关键因素，并展望了其应用前景。”
    • 光学精密工程   2025年33卷第5期 页码：677-701

    • DOI：10.37188/OPE.20253305.0677    

      中图分类号： TH741
    • CSTR：32169.14.OPE.20253305.0677    

    • 收稿日期：2024-12-12，

      修回日期：2024-12-30，

      纸质出版日期：2025-03-10

    移动端阅览

  • 张祥朝,牛兴漫,郝思远等.光学曲面的偏折测量技术：原理、挑战与展望（特邀）[J].光学精密工程,2025,33(05):677-701. DOI： 10.37188/OPE.20253305.0677. CSTR： 32169.14.OPE.20253305.0677.

    ZHANG Xiangchao,NIU Xingman,HAO Siyuan,et al.Deflectometric measurement technology for optical surfaces： principles， challenges， and prospects（invited）[J].Optics and Precision Engineering,2025,33(05):677-701. DOI： 10.37188/OPE.20253305.0677. CSTR： 32169.14.OPE.20253305.0677.

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