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用X射线反射测量法表征双层结构中 低原子序数材料的特性
论文 | 更新时间：2020-08-12
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    • 用X射线反射测量法表征双层结构中 低原子序数材料的特性

    • Characterization of low-Z material layer profiles in bilayer structures by X-ray reflectivity measurement

    • 徐垚 ，王占山 ，徐敬 ，张众 ，王洪昌 ，朱京涛 ，王风丽 ，王蓓 ，秦树基 ，陈玲燕
    • 光学精密工程 2007年15卷第12期 页码：1838-1843

    • 修回：2007-10-10 ，

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