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基于小孔夫琅和费衍射法的CCD光电响应特性标定研究
基于小孔夫琅和费衍射法的CCD光电响应特性标定研究
The pinhole Fraunhofer diffraction method of calibrating CCD optics-electron characteristic
- 光学精密工程 2008年16卷第3期 页码：410-414
修回：2007-11-13
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