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基于单颗磨粒切削的硅片加工破碎损伤
基于单颗磨粒切削的硅片加工破碎损伤
Silicon wafer breakage damage based on single abrasive cutting
- 光学精密工程 2021年29卷第11期 页码:2632-2639
DOI: 10.37188/OPE.20212911.2632
修回:2021-07-20
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相关作者
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吴东江
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相关机构
大连理工大学
大连理工大学 精密与特种加工教育部重点实验室
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吉林大学, 测试科学实验中心



