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基于光谱共焦探针的Wolter-I型X射线显微镜芯轴高精度检测
基于光谱共焦探针的Wolter-I型X射线显微镜芯轴高精度检测
High-precision measurement of Wolter-I mandrel for X-ray microscopy by using double confocal probes
- “Wolter型X射线显微镜具有高分辨率和集光区域,在先进光源和高能激光器中有重要的应用价值,研究团队搭建了基于光谱共焦探针的离线检测装置,将测量误差PV值降低至23 nm,为Wolter型芯轴高精度检测提供了新方案。”
- 光学精密工程 2024年32卷第13期 页码:2004-2016
DOI: 10.37188/OPE.20243213.2004
修回:2024-03-15
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