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基于双丝型像质计测定射线照相检测系统性能
基于双丝型像质计测定射线照相检测系统性能
Determining performance of radiographic examination system with duplex-wire type image quality indicator
- “针对双丝型像质计应用局限的现状,为了拓展双丝型像质计的应用,提出利用其测定射线照相系统性能的方法,建立了双丝型像质计射线理论成像模型,为解决射线照相系统性能测定问题提供解决方案。”
- 光学精密工程 2025年33卷第7期 页码:1051-1064
DOI: 10.37188/OPE.20253307.1051
- CSTR: 32169.14.OPE.20253307.1051
修回:2025-01-24
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相关作者
陈昌博
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相关机构
中国科学院大学
中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所
许昌职业技术学院
中国兵器科学研究院 宁波分院
浙江工业大学 机械工程学院


