激光聚焦线扫描法测量KDP晶体坯片的体缺陷

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高功率激光光学元器件 | 更新时间：2020-08-13

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- 激光聚焦线扫描法测量KDP晶体坯片的体缺陷
- Measurement of bulk defects for KDP crystal billet with focused line scanning
- 倪开灶，刘世杰，吴周令，陈坚
- 光学精密工程 2016年24卷第12期页码：3020-3026
- 作者机构：
  1.中国科学院上海光学精密机械研究所强激光材料重点实验室, 上海 201800
  2.合肥知常光电科技有限公司, 安徽合肥 230000
- 作者简介：
  倪开灶(1989-), 男, 江苏盐城人, 硕士, 实习研究员, 2015年于苏州大学获得硕士学位, 主要从事光学元件缺陷检测技术方面的研究。E-mail:nikaizao@siom.ac.cn
  刘世杰(1979-), 男, 陕西汉中人, 博士, 副研究员, 2008年于中国科学院上海光学精密机械研究所获得博士学位, 主要从事精密光学检测技术、衍射光学和光学薄膜等方面的研究。E-mail:shijieliu@siom.ac.cn LIU Shi-jie, E-mail: shijieliu@siom.ac.cn
- 基金信息：
  国家自然科学基金青年科学基金资助项目(11602280)
- DOI： 10.3788/OPE.20162412.3020
  中图分类号：
- 录用：2016-11-20 ，
- 稿件说明：
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