您当前的位置：
首页 >
文章列表页 >
数字全息术用于光学元件表面缺陷形貌测量
现代应用光学 | 更新时间：2020-07-07
上一篇|下一篇

    • 数字全息术用于光学元件表面缺陷形貌测量

    • Measurement of surface defects of optical elements using digital holography

    • 陈竹 ，姜宏振 ，刘旭 ，陈波
    • 光学 精密工程 2017年25卷第3期 页码：576-583

    • DOI： 10.3788/OPE.20172503.0576     

      中图分类号：

    • 录用：2016-11-17 ，

    移动端阅览

  •  
  •  

  • HTML全文

  • 图( 8 ) 表( 0 )

  • 参考文献

  • 出版信息

  • 数据统计

论文导航
icon
试读结束，您可以激活您的VIP账号继续阅读。
去激活 >
icon
试读结束，您可以通过登录账户，到个人中心，购买VIP会员阅读全文。
已是VIP会员？
去登录 >

516

浏览量

1749

下载量

0

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。
提交
工具集
  • BibTeX下载
  • Endnote下载
  • RefMan 下载
  • NoteExpress下载
  • NoteFirst下载

相关文章

磁流变抛光对熔石英激光损伤特性的影响
光学元件挠性支撑结构广义建模及优化设计
基于Otsu方法的钢轨图像分割
6-PSS型光学元件精密轴向调节机构
光纤耦合系统中角位移台耦合误差建模与修正

相关作者

石峰
万稳
戴一帆
彭小强
曹玉岩
王志臣
周超
范磊

相关机构

国防科技大学 机电工程与自动化学院 湖南超精密加工技术重点实验室
中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所
南昌工程学院 江西省精密驱动与控制重点实验室
南昌大学 机电工程学院
中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所 应用光学国家重点实验室，吉林&nbsp