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〈111〉晶向标定方法及其在湿法刻蚀硅光栅中的应用
现代应用光学 | 更新时间:2020-08-13
〈111〉晶向标定方法及其在湿法刻蚀硅光栅中的应用
Calibration method of silicon 〈111〉 orientation and its application in fabrication of silicon grating by anisotropic wet etching
- 光学 精密工程 2018年26卷第1期 页码:1-7
DOI: 10.3788/OPE.20182601.0001
录用:2017-9-30
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