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荧光成像技术无损探测光学元件亚表面缺陷
现代应用光学 | 更新时间：2020-08-13
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    • 荧光成像技术无损探测光学元件亚表面缺陷

    • Nondestructive detection of optics subsurface defects by fluorescence image technique

    • 刘红婕 ，王凤蕊 ，耿峰 ，周晓燕 ，黄进 ，叶鑫 ，蒋晓东 ，吴卫东 ，杨李茗
    • 光学 精密工程 2020年28卷第1期 页码：50-59

    • DOI： 10.3788/OPE.20202801.0050     

      中图分类号：

    • 录用：2019-5-19 ，

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