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透明红外硫系薄膜非均匀性检测及影响因素
透明红外硫系薄膜非均匀性检测及影响因素
Optical non-uniformity test of transparent infrared chalcogenide film and influencing factors
- 光学 精密工程 2020年28卷第5期 页码:1005-1011
DOI: 10.3788/OPE.20202805.1005
修回:2019-12-19 ,
录用:2019-12-19
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相关作者
祝铁丽
周 亮
刘永云
相关机构
大连理工大学 模具研究所


