您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
透明红外硫系薄膜非均匀性检测及影响因素
现代应用光学 | 更新时间:2020-07-09
    • 透明红外硫系薄膜非均匀性检测及影响因素

    • Optical non-uniformity test of transparent infrared chalcogenide film and influencing factors

    • 姚玉明 ,宋宝安 ,肖传富 ,戴世勋
    • 光学 精密工程 2020年28卷第5期 页码:1005-1011
    • DOI: 10.3788/OPE.20202805.1005     

      中图分类号:
    • 修回:2019-12-19 ,

      录用:2019-12-19 ,

    移动端阅览

  •  
  •  
  • HTML全文

  • 图( 6 ) 表( 0 )

  • 参考文献

  • 出版信息

  • 数据统计

论文导航
icon
试读结束,您可以激活您的VIP账号继续阅读。
去激活 >
icon
试读结束,您可以通过登录账户,到个人中心,购买VIP会员阅读全文。
已是VIP会员?
去登录 >

315

浏览量

841

下载量

2

CSCD

文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
  • BibTeX下载
  • Endnote下载
  • RefMan 下载
  • NoteExpress下载
  • NoteFirst下载

相关文章

注射成型微流控芯片微沟槽成型质量的无损检测
复杂关节物体六自由度位姿估计与实时系统
中国仪器企业如何突破规模瓶颈
基于灵敏度矩阵的高阶非球面自动干涉检测
光子晶体激光器掩埋纳米孔结构自动量取

相关作者

祝铁丽
周 亮
刘永云

相关机构

大连理工大学 模具研究所