您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
X射线正入射显微镜及其在ICF中的应用
论文 | 更新时间:2020-08-12
X射线正入射显微镜及其在ICF中的应用
X-ray Normal Incidence Microscope and Its Application in ICF
- 光学精密工程 1999年7卷第1期 页码:1-9
修回:1998-7-10
移动端阅览
HTML全文
出版信息
数据统计
520
浏览量
26646
下载量
0
CSCD
文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
- BibTeX下载
- Endnote下载
- RefMan 下载
- NoteExpress下载
- NoteFirst下载
相关文章
大口径主焦点望远镜的滤光轮机构设计与试验
40~90 nm波段极紫外多层膜研究进展
17.1 nm极紫外滤光片的制备
极紫外正入射光学系统研究进展
等离子体诊断用多层膜X射线成像光学研究进展
相关作者
姜晰文
邵亮
贺昌龙
郭鹏
赵金宇
姜海波
王占山
齐润泽
相关机构
中国科学院大学
中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所
同济大学 物理科学与工程学院 精密光学工程技术研究所 先进微结构材料教育部重点实验室
上海卫星工程研究所
同济大学 物理科学与工程学院 精密光学工程技术研究所,先进微结构材料教育部重点实验室,上海市数字光学前沿科学研究基地,上海市全光谱高性能光学薄膜器件与 应用专业技术服务平台


