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光学曲面的偏折测量技术：原理、挑战与展望（特邀）
现代应用光学 | 更新时间：2026-09-11
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    • 光学曲面的偏折测量技术：原理、挑战与展望（特邀）

    • Deflectometric measurement technology for optical surfaces： principles， challenges， and prospects（invited）

    • “偏折术由于其测量系统简单、动态范围大、抗干扰能力强，在复杂光学曲面的面形与缺陷检测方面具有独特优势，介绍了其在精密测量领域的研究进展，相关专家分析了影响测量精度的关键因素并给出主要应用场景及未来发展趋势，为推动我国精密工程及先进制造领域的技术进步和产业发展奠定了基础。”
    • 张祥朝 ，牛兴漫 ，郝思远 ，郎威 ，李坪峰 ，刘瑞阳 ，张宗华
    • 光学精密工程 2025年33卷第5期 页码：677-701

    • DOI： 10.37188/OPE.20253305.0677     

      中图分类号：
    • CSTR： 32169.14.OPE.20253305.0677     

    • 修回：2024-12-30 ，

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