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相位调控双向剪切散斑干涉表面变形测量
全场光学测量与无损检测 | 更新时间：2026-09-11
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    • 相位调控双向剪切散斑干涉表面变形测量

    • Measurement of surface deformation using phase-manipulated dual-directional shearography

    • “针对单向剪切散斑干涉的方向敏感性问题，提出一种基于相位调控的双向剪切散斑干涉技术，为解决高精度变形测量中单波长、单偏振、单相机、单孔径的光学干涉法需求提供了解决方案。”
    • 齐司源 ，方未东 ，刘奕隆 ，常青 ，高帅 ，汪盛佳
    • 光学精密工程 2025年33卷第15期 页码：2390-2401

    • DOI： 10.37188/OPE.20253315.2390     

      中图分类号：
    • CSTR： 32169.14.OPE.20253315.2390     

    • 修回：2025-07-15 ，

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