浏览全部资源
扫码关注微信
Published Online:15 April 1977,
Published:15 April 1977
移动端阅览
. 光学系统和元件的干涉检验评论[J]. 光学精密工程, 1977,(2): 29-41
. [J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1977,(2): 29-41
. 光学系统和元件的干涉检验评论[J]. 光学精密工程, 1977,(2): 29-41 DOI:
. [J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1977,(2): 29-41 DOI:
光学系统和元件公差往往很严
检验这些产品是制造中一个基本部分。本评论描述光学的干涉性质怎样应用到光学检验
并指出各种技术应用的主要范围。
0
Views
17
下载量
CSCD
Publicity Resources
Related Articles
Related Author
Related Institution