邹自强. 精密刻划和线纹计量的进展[J]. 光学精密工程, 1982,(3): 51-54

. [J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1982,(3): 51-54

邹自强. 精密刻划和线纹计量的进展[J]. 光学精密工程, 1982,(3): 51-54 DOI：

. [J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1982,(3): 51-54 DOI：