光栅高分辨本领的测定

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光栅高分辨本领的测定

更新时间：2020-08-12

- 光栅高分辨本领的测定
- Optics and Precision Engineering Vol. 0, Issue 3, Pages: 46-48(1983)
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  CLC：
- Published Online：15 June 1983，
  
  Published：15 June 1983
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王雅黎. 在外电场作用下的BSO晶体的标准折射率椭球方程[J]. 光学精密工程, 1983,(3): 27-32

. [J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1983,(3): 27-32
王雅黎. 在外电场作用下的BSO晶体的标准折射率椭球方程[J]. 光学精密工程, 1983,(3): 27-32 DOI：

. [J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1983,(3): 27-32 DOI：

我室从美国宝雪龙公司进口了一块刻划面积为256×128毫米

79槽/毫米

闪耀角63°26′的小阶梯光栅。说明书上给出该光栅分辨本领是理论值的90%。为了实际检验它的分辨本领

用我们现有的8米埃伯特型光谱仪做了一些测定

现介绍如下;一、检测方法过去

我们一直采用半宽法测定光栅的低分辨本领。这种方法是对给定的光栅

直接测量单色光的衍射图样的强度分布

用它的半强度宽作为△λ

进而求出分辨本领。但是

用这种方法测高分辨本领是很困难的。它主要是因为:尽管使用了长焦距的光谱仪

衍射图样

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