Research on polarization optimization of dual-coded spectropolarimeter

WANG Jiayu; SHI Haodong; LI Yingchao; FU Qiang; WANG Chao; LIU Zhenwei; JIANG Huilin

doi:10.37188/OPE.20233122.3256

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Research on polarization optimization of dual-coded spectropolarimeter

Modern Applied Optics | 更新时间：2023-11-28

- Research on polarization optimization of dual-coded spectropolarimeter
- Optics and Precision Engineering Vol. 31, Issue 22, Pages: 3256-3265(2023)
- 作者机构：
  
  1.长春理工大学光电工程学院，吉林长春 130022
  2.东北工业集团有限公司，吉林长春 130103
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.37188/OPE.20233122.3256
  CLC： O436.3
- Received：20 June 2023，
  
  Revised：20 July 2023，
  
  Published：25 November 2023
- 稿件说明：
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王稼禹,史浩东,李英超等.双编码快照式光谱偏振成像系统偏振优化方法[J].光学精密工程,2023,31(22):3256-3265.

WANG Jiayu,SHI Haodong,LI Yingchao,et al.Research on polarization optimization of dual-coded spectropolarimeter[J].Optics and Precision Engineering,2023,31(22):3256-3265.
王稼禹,史浩东,李英超等.双编码快照式光谱偏振成像系统偏振优化方法[J].光学精密工程,2023,31(22):3256-3265. DOI： 10.37188/OPE.20233122.3256.

WANG Jiayu,SHI Haodong,LI Yingchao,et al.Research on polarization optimization of dual-coded spectropolarimeter[J].Optics and Precision Engineering,2023,31(22):3256-3265. DOI： 10.37188/OPE.20233122.3256.

摘要

针对双编码快照式光谱偏振成像系统偏振效应校正需求，提出多参量模型引导的偏振优化方法，建立基于数字微镜阵列（DMD）、棱镜-光栅-棱镜（PGP）、微偏振片阵列探测器（MPA）以及多膜层系的光谱偏振成像系统全链路偏振效应模型，分析部分偏振光入射时光谱偏振成像系统的二向衰减，揭示入射光波长、偏振度与系统偏振效应的耦合机理。通过有针对性地控制透镜的折射率、入射角，光栅折射率、常数，棱镜折射率、顶角，多层膜复折射率、膜层厚度等参量，在谱线弯曲满足重建要求的前提下实现对光谱偏振成像系统偏振效应的优化。仿真结果表明，优化后系统SSIM＞0.8、系统偏振效应相对误差<4%，与优化前相比偏振效应降低至少6%。当入射光偏振度恒定时，系统偏振效应与波长成反比。通过实验获取单次曝光下典型材料的光谱偏振重建图像，金属偏振度相对误差提升至少14.7%，塑料偏振度相对误差提升至少63.6%。验证了所提偏振优化方法的必要性和可行性。本研究为双编码快照式光谱偏振成像系统多维数据的高精度获取奠定了理论基础。

Abstract

A multiparameter model-guided polarization optimization method is proposed for polarization effect correction of a dual-coded snapshot spectropolarimeter. A full-link polarization effect model of the spectropolarimeter based on a digital micro-mirror device （DMD）， prism-grating-prism （PGP）， micro-polarizer array （MPA） detector， and multi-film system is established. Bidirectional attenuation of the spectropolarimeter with incident partially polarized light is analyzed. The relationship among wavelength， polarization degree of the incident light， and polarization effect is revealed. The polarization effect of the spectropolarimeter is optimized through targeted control of the refractive index and incidence angle， grating refractive index and constant， prism refractive index and top angle， and film refractive index and film thickness when the spectral line bending meets the reconstruction requirements. The simulation results show that the structural similarity （SSIM） of the optimized system is >0.8 and that the relative error of the system polarization effect is <4%. The polarization effect is reduced by at least 6% compared with that before optimization. When the polarization of the incident light is constant， the polarization effect of the system is inversely proportional to the wavelength. The experimental acquisition of spectral polarization reconstructed images of typical materials under a single exposure improves the relative error by at least 14.7% for metal and 63.6% for plastic. The necessity and feasibility of the proposed polarization optimization method are verified. This study lays a theoretical foundation for high-precision acquisition of multidimensional data in dual-coded spectropolarimeters.

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