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网络出版日期:1977-10-15,
纸质出版日期:1977-10-15
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大舟. 高反射电介质多层膜折射率的测定[J]. 光学精密工程, 1977,(5): 34-39,47
. [J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1977,(5): 34-39,47
大舟. 高反射电介质多层膜折射率的测定[J]. 光学精密工程, 1977,(5): 34-39,47 DOI:
. [J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1977,(5): 34-39,47 DOI:
本文叙述和讨论了一种方法
根据这种方法
可以在生产过程中从多层膜的透射系数测定中
确定电介质薄膜的折射率
按这种方法获得 CaF
2
Na
3
A1F
6
MgF
ThF
4
PbF
Sb
O
ZnS 和 ZnSe(这些材料的各种组合)的折射率。结果
与文献中所给出的数值基本一致。只有在极疏松的基膜上(如在 CaF
薄膜)所淀积的膜层
折射率明显地偏小.由此可以推断
从底层向表层存在一定疏松度的过渡.
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