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网络出版日期:1976-06-15,
纸质出版日期:1976-06-15
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于和平. 镀膜厚度的测定[J]. 光学精密工程, 1976,(3): 68-68
. [J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1976,(3): 68-68
于和平. 镀膜厚度的测定[J]. 光学精密工程, 1976,(3): 68-68 DOI:
. [J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1976,(3): 68-68 DOI:
Elcometer 公司推荐了精确和非破坏地测定表面膜厚的三种仪器
譬如测定铁或非含铁金属基体材料上的涂料、电镀、塑料、橡胶和环氧树脂的厚度.这些仪器就是通称的 Minitector 系列
每种仪器设计为承担特定范围的任务
用字母 F、N 和 FN 来表示.F 型测定磁基体上的非磁性膜
N 型用电学方法测定非含铁基体上的非传导膜
而 FN 型能测定以铁和非含铁为基体的材料.
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