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网络出版日期:1982-08-15,
纸质出版日期:1982-08-15
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郭永廉. 发射光谱法在薄层(渗层)分析中的应用——钢中渗铬层含铬量的逐层光谱定量分析[J]. 光学精密工程, 1982,(4): 45-48
. [J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1982,(4): 45-48
郭永廉. 发射光谱法在薄层(渗层)分析中的应用——钢中渗铬层含铬量的逐层光谱定量分析[J]. 光学精密工程, 1982,(4): 45-48 DOI:
. [J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1982,(4): 45-48 DOI:
近年来
对固体材料的薄层分析
尽管发展了以电子、离子、光子作为λ射束的各种“探针”方法及其与之相应的丰富多样的分析技术
但对有些分析任务
发射光谱法仍有它独到的地方。我们曾为配合渗铬研究
了解钢的渗铬层中铬含量的改变情况而设计了发射光谱逐层分析的方法。因渗层很薄
化学分析方法无法取样
因此我们用NCП—28型石英摄谱仪
NΓ—2型火花发生器
并制作了一套表面激发装置
以铬钢作出工作曲线
进行了渗层铬含量的逐层测定。
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