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网络出版日期:1983-02-15,
纸质出版日期:1983-02-15
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. 技术鉴定[J]. 光学精密工程, 1983,(1): 56-57
. [J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1983,(1): 56-57
. 技术鉴定[J]. 光学精密工程, 1983,(1): 56-57 DOI:
. [J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1983,(1): 56-57 DOI:
1982年10月25日至11月1日
长春光机所有三项科研成果通过技术鉴定。它们是“ZG-Ⅱ型杂光测定仪”、“消杂光涂层”和“高速齿轮”。ZG-Ⅱ型杂光测定仪ZG-Ⅱ型杂光测定仪
是为了在物镜杂光测定方面研制的一台具有较现代水平的仪器。该仪器是以现在国际上流行的黑斑法原理为基础
采用了消光积分球、瞄准显微镜等结构
设计思想先进
结构合理。通过更换附件可以测试杂光、透过率和像面照度分布。因而和国内外同类仪器比较
有一机多能的特点。
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