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网络出版日期:1984-02-15,
纸质出版日期:1984-02-15
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杨名恪. 用正比计数管测量超软X光源的辐射强度[J]. 光学精密工程, 1984,(1): 24-28
. [J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1984,(1): 24-28
杨名恪. 用正比计数管测量超软X光源的辐射强度[J]. 光学精密工程, 1984,(1): 24-28 DOI:
. [J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1984,(1): 24-28 DOI:
引言对于超软 X 光源辐射强度的绝对测量
由于缺乏稳定的光源标准而难于进行.通常
只能用同步辐射或用其标定过的探测器进行测量.致使测量受到极大的限制.特别对于一些准确度要求不高的测量
更感不便.利用超软 X 射线正比计数管测量超软 X 光源的绝对辐射强度是初次尝试.
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