线阵CCD光电器件MTF测量

李耀斌

doi:null

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

线阵CCD光电器件MTF测量

论文 | 更新时间：2020-08-12

- 线阵CCD光电器件MTF测量
- Measurement Device MTF of CCD Liner Photo-Electric
- 光学精密工程 1986年0卷第2期页码：63-66
- 作者机构：
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 网络出版日期：1986-04-15，
  
  纸质出版日期：1986-04-15
- 稿件说明：
移动端阅览
李耀斌. 线阵CCD光电器件MTF测量[J]. 光学精密工程, 1986,(2): 63-66

Li Yaobin. Measurement Device MTF of CCD Liner Photo-Electric[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1986,(2): 63-66
李耀斌. 线阵CCD光电器件MTF测量[J]. 光学精密工程, 1986,(2): 63-66 DOI：

Li Yaobin. Measurement Device MTF of CCD Liner Photo-Electric[J]. Editorial Office of Optics and Precision Engineering, 1986,(2): 63-66 DOI：

摘要

MTF是CCD主要参数之一

它直接影响CCD的设计和使用的前途。本文介绍了一种测量CCD MTF的方法并测量了美国仙童公司143/CCD的肘TF特性曲线。

Abstract

MTF is one of the main specifications of CCD and has a most important influence on the applications and designe development of CCD. This paper presents a way to test MTF of CCD and the measured MTF performance of 143/CCD made by Fairchild company USA.

关键词

Keywords

references

浏览量

380

下载量

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。

提交

工具集

关联资源

暂无数据

相关机构

暂无数据

AI问答

地址：长春市东南湖大路3888号邮编：130033
联系电话：0431-86176855 Email：gxjmgc@ciomp.ac.cn
本系统由Light学术出版中心、北京北大方正电子有限公司共建吉ICP备11002662号-17 京公网安备11010802024621
本系统建议在Chrome、 IE9+ 以上版本浏览器阅读本站内容，360浏览器请切换至极速模式
Cookies帮助我们提供服务并提供个性化体验。使用本网站，即表示您同意我们使用Cookies

⁰

线阵CCD光电器件MTF测量

Measurement Device MTF of CCD Liner Photo-Electric

DOI：

摘要

Abstract

关键词

Keywords

references